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半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法


半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法

作  者:李兴冀 杨剑群 徐晓东 应涛 编著

出 版 社:哈尔滨工业大学出版社

出版时间:2023年07月

定  价:128.00

I S B N :9787576705447

所属分类: 专业科技  >  工业技术  >  一般工业技术    

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