本书是SoC设计方面的一本经典著作。书中许多有关基于IP核的SoC设计方法的基本概念已被VSIA国际标准组织引用。本书内容主要取材于作者在集成电路设计工程方面的实践经验和理论。全书共13章，前5章从SoC设计的基本概念出发，介绍了片上系统设计过程、系统级设计问题（包括规则和工具）、核设计过程、RTL编码指南等方面的基础知识。然后进一步详细讲解了SoC设计实践方面的方法。在IP核综合指南、IP核验证指南、开发硬IP核、IP核的配置、针对可重用设计的封装、用可重用IP核的集成、系统级验证、数据和项目管理等方面系统阐述了SoC可重用设计方法学在集成电路设计实践中的应用方法。最后以国际著名集成电路设计公司的SoC设计实践活动为例，讲述了当今最先进的SoC设计方面的技术。
本书可作为微电子类、电子工程类、计算机图形图像处理类本科生、研究生的专业课程教学用教材，也可供从事集成电路设计、电子技术、电气工程和计算机工程方面的工程技术人员学习参考。
第1章 引言
1.1 本书的目标
1.2 可重用设计中的挑战
1.3 可重用设计方法所带来的新商业模式
第2章 片上系统设计过程
2.1 SoC设计范例
2.2 系统设计流程
2.3 规范的制定
2.4 系统设计过程
第3章 系统级设计问题：规则和工具
3.1 标准模型
3.2 时序收敛设计：逻辑设计问题
3.3 时序收敛设计：物理设计问题
3.4 可验证设计：验证策略
3.5 系统内部互连和片上总线
3.6 可启动和可调试设计：片上调试结构
3.7 低功耗设计
3.8 可测性设计：生产测试策略
3.9 可重用的必要条件
第4章 核设计过程
4.1 IP设计概述
4.2 关键特征
4.3 规划和制定规范
4.4 核设计和验证
4.5 软核生产
第5章 RTL编码指南
5.1 编码指南概述
5.2 基本编码方法
5.3 可移植性编码
5.4 时钟和Reset信号设计指南
5.5 可综合性编码
5.6 可综合划分
5.7 带有存储器的设计
5.8 代码分析
第6章 IP核综合指南
6.1 综合问题概述
6.2 IP核综合策略
6.3 物理综合
6.4 RAM和数据通路产生器
6.5 综合脚本编码指南
第7章 IP核验证指南
7.1 IP核验证概述
7.2 检查的重要性
7.3 反向测试
7.4 测试平台的设计
7.5 验证模块的设计
7.6 达到100%覆盖率
7.7 时序验证
第8章 硬核的设计方法
8.1 概述
8.2 硬核设计中存在的问题
8.3 硬核设计流程
8.4 硬核的设计
8.5 硬核的模型建立
8.6 硬核的移植
第9章 IP核的配置：针对可重用设计的封装
9.1 完整产品的交付
9.2 用户指南
第10章 可重用IP核的系统集成
10.1 集成概述
10.2 片上系统设计中IP核的集成
10.3 IP核的选择
10.4 存储器的集成
10.5 物理设计
第11章 系统级验证
11.1 验证的重要性
11.2 验证方案
11.3 接口验证
11.4 功能验证
11.5 随机测试
11.6 基于应用程序的验证
11.7 门级验证
11.8 针对系统验证的特殊硬件设备
第12章 数据和项目管理
12.1 数据管理
12.2 项目管理
第13章 可重用SoC设计实例
13.1 阿尔卡特公司
13.2 Atmel
13.3 英飞凌科技
13.4 LSI Logic公司
13.5 Philips Semiconductor
13.6 意法半导体
13.7 结束语
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