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空间单粒子效应——影响航天电子系统的危险因素

作　　者：Edward

出版社：电子工业出版社

丛书：国防电子信息技术丛书

出版时间：2016年03月

定　　价：79.00

I S B N ：9787121281976

所属分类：专业科技 > 工业技术 > 航空/航天

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标　　签：工业技术航空/航天

TOP内容简介

本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

TOP作者简介

韩郑生，中科院微电子研究所研究员/教授，博士生导师，研究方向为微电子学与固体电子学，从事集成电路工艺技术、电路设计方面的工作，曾任高级工程师，光刻工艺负责人，研究室副主任兼任测试工艺负责人，硅工程中心产品部主任，项目/课题负责人。国家特殊津贴获得者。国家自然基金面上项目评审专家。

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装　　帧：平塑

页　　数：316